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FIB-SEM-Ar“三束“系统
FIB-SEM-Ar“三束“系统FIB-SEM-Ar“三束“系统/日立最新双束FIB系统 NX2000(图1)可以通过对已经加工好的样品再用Ar+离子束进行加工,达到更好的加工效果 。
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 应用
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蔡司 Crossbeam 340 和 Crossbeam 540专用于纳米断层成像和纳米加工的 FIB-SEM 系统
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来源:蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司 资料
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垂直镜筒设计双束FIB NX9000
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 应用
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高效率加工FIB MI4050
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 应用
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TEM 制样:FIB制样的优势和缺陷
来源:复纳科学仪器(上海)有限公司 相关产品:Gentle Mill离子减薄仪/离子精修仪 应用
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FIB马达台摇摆功能
摇摆FIB马达台摇摆功能/日立FIB的马达台摇摆功能可以在样品加工的同时不断改变离子束的加工方向,对消除“Curtaining effect”效果非常明显。
来源:天美仪拓实验室设备(上海)有限公司 应用
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SEM Primer 一个不错的关于SEM入门的英文资料
来源:fancy077 资料
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SEM &EDS introduction
来源:shengfengyu 资料
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Smart use of GDOES: Sample preparation for SEM & EBSD
来源:HORIBA科学仪器事业部 应用
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扫描电镜 SEM基础知识
来源:shengfengyu 资料
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